Полное описание

Electron and optical beam testing of integrated circuits : proc.of the 3rd European conf.,Sept.9-11,1991,Como / ed. M. Melgara ; Ed. M. Melgara. - Amsterdam : Elsevier , 1992. - XII,534 с с : il. - (Microelectronic engineering ; vol.16,N 1-4,1992.). - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей
Перевод заглавия: Испытание интегральных схем с помощью электронного и оптического пучков.Труды 3-й европ.конф.,,1991

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77.001.4(063)

Рубрики:
Интегральные схемы -- Испытание -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Melgara, M.\ed.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W8956/Vol.16,N 1-4,1992.)

Шифр в сводном ЭК: 35e98dcb5e7e4353ee39d59161e7537d

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽