Полное описание

Якименко, И. Ю. Диагностика структур на основе InGaAs/InP методом комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. Ю. Якименко. - СПб, 1994. - 17 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН.Физико-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.16-17(7 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592.9.001.4(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР94-2647)

Шифр в сводном ЭК: 34f876b423d695e37b8e97c10a4d7c13

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽