Полное описание

Cheng, K. -T. Unified methods for VLSI simulation and test generation / K.-T.Cheng,V.D.Agrawal. - Boston, Ma [etc.] : Kluwer acad. publ., 1989. - XII,148 p. p. : ill. - (The Kluwer international series in engineering and computer science ; 73). - ISBN 0-7923-9025-3. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-143.Указ.:с.145-148

ГРНТИ	УДК
47.33.37	621.3.049.771.14

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание
Интегральные схемы большие -- Моделирование

Доп. точки доступа:
Agrawal, V.D.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/15815/73)

Шифр в сводном ЭК: 34cc555fc2460f8dfc07fcd77fd7e7c8

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽