Полное описание

Векилова, Г. В. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учеб. пособие / Г. В. Векилова, А. Н. Иванов, Ю. Д. Ягодкин. - М. : МИСИС, 2009 (М.). - 144 с. : ил. - Библиогр.: с. 144 (7 назв.). - 150 экз. - ISBN 978-5-87623-228-1. - Текст : электронный.
В надзаг.: Гос. технол. ун-т, Моск. ин-т стали и сплавов, Каф. физ. материаловедения
Содержание:

ГРНТИ	УДК
81.09.03	620.22-022.532:53
	ББК
	30.3

Рубрики:
Наноструктурные материалы -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ДИФРАКЦИОННЫЙ МЕТОД -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛОХИМИЯ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ МЕТОД -- НАНОМАТЕРИАЛ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ ЛУЧ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: Физические основы методов и аппаратура проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющих исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллического.
Доп. точки доступа:
Иванов, А.Н.
Ягодкин, Ю.Д.

Перейти к просмотру издания

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-09/65575)

Шифр в сводном ЭК: 28d0bfbe66dd7f14bcc95d92d79a88a2

Заказать издание
Заказ фрагмента документа

Просмотр издания ЭБС IPR SMART