Полное описание

Чинарев, В. К. Фотоэлектрические методы измерения деформаций / В. К. Чинарев, В. А. Рогов. - М. : [б. и.], 1989. - 55 c. : ил. - 200 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Моск. инж.-физ. ин-т, [Фак. техн. физики]. Библиогр.: с. 53-54 (12 назв.)

ГРНТИ	УДК
81.09.81	620.171

Рубрики:
Деформации (мех.) -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ДЕФОРМАЦИИ -- МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ
Доп. точки доступа:
Рогов, В.А.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д7-89/67807)

Шифр в сводном ЭК: 26fe20941772788aac8275a8d2160276

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽