Полное описание

Чжу Шичю. Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.04 / Чжу Шичю. - М., 2001. - 18 с. + 70 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. Библиогр.: с. 16-18 (11 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.382.002:658.562(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР02-5394)

Шифр в сводном ЭК: 21c736a29c5f1a8d57a99ff7afd2a622

Заказать издание
Заказ фрагмента документа