• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Experimental findings on self-recovery and improvement of representative parameters of some semiconductor devices as irradiated in fast neutron flux / W.Hammer,Sl.Sterlinski,V.M.Nazarov,Z.Bober. - Dubna : [s. n.], 1990. - 6 p. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е14-90-345). - 360 экз. - Текст : непосредственный.
    Bibliogr.: p. 6 (5 nazv.)

    ГРНТИ УДК
    47.33621.382:539.16(04)

    Рубрики:
    Полупроводниковые приборы -- Влияние ионизирующих излучений

    Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ -- ИОНИЗИРУЮЩЕЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР
    Доп. точки доступа:
    Hammer, W.
    Sterlinski, Sl.
    Nazarov, V.M.
    Bober, Z.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Е14-90-345)

    Шифр в сводном ЭК: 181e285ac4d1bc821427b0ee0ae30059



    Заказ фрагмента документа ₽