• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Consideration of fluctuation in secondary beam intensity of heavy ion beam probe measurements / A.Fujisawa,H.Iguchi,S.Lee,Y.Hamada. - Nagoya : [s. n.], 1997. - 15 p. : /3/ l.ill. - (Research report NIFS series / Nat.inst.for fusion science, ISSN 0915-633X ; 475). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.13

    ГРНТИ УДК
    29.27.49621.039.66

    Рубрики:
    Плазма -- Методы исследования

    Доп. точки доступа:
    Fujisawa, A.
    Iguchi, H.
    Lee, S.
    Hamada, Y.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/16889/475)

    Шифр в сводном ЭК: 14d4879a287a5691ef9d28729417473d



    Заказ фрагмента документа ₽