Полное описание

Комплексы малых ЭВМ: производительность. Надежность. Диагностика / Песелев К.В.,Иванова О.Л.,Крейнин А.Я.,Шяудкулис В.И. - М. : НПО "Поиск", 19 - . - Текст : непосредственный.
Ч. 2 : Организация диагностирования комплексов и систем / П.В.Цыков;П. В. Цыков. - 1993. - 157 с. : ил. - 136 экз.

Библиогр.:с.151-155(51 назв.)

ГРНТИ	УДК
50.33.35	004.382.4.052.32

Рубрики:
Мини-ЭВМ -- Техническая диагностика

Доп. точки доступа:
Песелев, К.В.
Иванова, О.Л.
Крейнин, А.Я.
Шяудкулис, В.И.

Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/51521/2)

Шифр в сводном ЭК: 12b8ff57daff3d0108d503321b225666

Заказать издание
Заказ фрагмента документа