Полное описание

Анфалова, Е. С. Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учеб. пособие / Е. С. Анфалова. - М. : МИЭТ, 2005 (М.). - 148 с. - Библиогр.: с. 146. - 300 экз. - ISBN 5-7256-0401-2. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ин-т электронной техники (Техн. ун-т)

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.382.002:658.562

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Технический контроль

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-05/23870)

Шифр в сводном ЭК: 12900f6a491b6c0c3085d4aa4a9215bd

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽