Полное описание

Eckstein, M. Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden : Diss. / M.Eckstein. - Stuttgart, 1990. - 144 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.136-141

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/16656)

Шифр в сводном ЭК: 0f72fa22db7c5a757b25f607bc8c65dd

Заказать издание
Заказ фрагмента документа