Полное описание

Яценко, Д. А. Развитие и применение методов моделирования рентгеновских дифракционных картин для структурной диагностики порошковых наноматериалов : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / Д. А. Яценко. - 2013. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.09.03	620.22-492.2-022.532(043)

Кл.слова (ненормированные): МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ПОРОШКОВЫЕ НАНОМАТЕРИАЛЫ -- СТРУКТУРА
Аннотация: Разработано программное обеспечение для рентгеноструктурного анализа ультрадисперсных систем, базирующееся на универсальных алгоритмах (формуле Дебая и интегрировании в обратном пространстве), отличающееся расширенными возможностями расчета дифракционных картин для неупорядоченных и упорядоченных ансамблей наночастиц, удобным графическим интерфейсом обработки экспериментальных данных, построения и визуализация атомной модели объектов, совместимостью со стандартными базами структурных данных. Программы могут использоваться как при проведении научных исследований, так и для постановки прикладных методик диагностики и аттестации порошковых наноматериалов при их производстве.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар13-12137)

Шифр в сводном ЭК: 0e7b0fc33ed29bb57d75e400797b5395

Заказать издание
Заказ фрагмента документа