Полное описание

Логинов, Ю. Ю. Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниках А2В2 / Ю. Ю. Логинов, П. Д. Браун, К. Дьюроуз. - М. : Логос, 2003. - 303 с. : ил. - 1000 экз. - ISBN 5-94010-214-X. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 282-303 (442 назв.).

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты

Кл.слова (ненормированные): ДЕФЕКТ -- КРИСТАЛЛ -- ПОЛУПРОВОДНИК
Доп. точки доступа:
Браун, П.Д.
Дьюроуз, К.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-03/87238)

Шифр в сводном ЭК: 0d2801bfa25d3da58f9321c8c5124364

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽