Полное описание

Foster, A. Scanning probe microscopy. Atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer. - New York, NY [etc.] : Springer, 2006. - XIV, 281 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 279-281. - ISBN 0-387-40090-7. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Hofer, W.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27428)

Шифр в сводном ЭК: 06b49da11ea48fafd9c6c3879f53000e

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽