Полное описание

06925002095
Исследование локализованных уровней в полуизоляторах с помощью комбинированных измерений термически активированной омической проводимости и проводимости, ограниченной пространственным зарядом / Ин-т сверхтвердых материалов. - [Б. м. : б. и.]. - 27 с. : ил. - Пер. ст. Study of Localized levels in Semi-Insulators by Combined Measurements of Thermally Activated Ohmic and Space-Charge-Limited Conduction / G. G. Roberts, Schidlin из журн.: // Physical Review. - 1969. - Vol. 180, N 3. - P.785-794. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:18 назв.
ГРНТИ 45.09.37

Рубрики:
Диэлектрики

Доп. точки доступа:
Roberts, G. G.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Копия: мкф.

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽