• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Scanning probe microscopy : 7th Intern. colloquium on scanning probe microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.9-11, 1999 / Ed. M. Yoshimura. - Tokyo : Jap. soc. of appl. phys., 2000. - 3701-3833 p. p. : ill. - (Japanese journal of applied physics.Pt.1.Regular papers, short notes & review papers ; 2000,Vol.39,N 6B). - Текст : непосредственный.
    Библиогр. в конце ст. Указ. в конце кн.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35(063)

    Рубрики:
    Микроскопия электронная -- Съезды и конференции

    Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    Yoshimura, M.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W2806/2000,Vol.39,N 6B)

    Шифр в сводном ЭК: 06826797df5c337a231cf76fe913049f



    Заказ фрагмента документа ₽