Полное описание

Панин, С. В. Анализ изображений в оптическом методе оценки деформации : [монография] / С. В. Панин, П. С. Любутин, В. В. Титков; отв. ред. А. А. Светлаков ; Российская академия наук, Сибирское отделение. Институт физики прочности и материаловедения. - Новосибирск : Изд-во Сиб. отд-ния Рос. акад. наук, 2017. - 287 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-7692-1545-2. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.09.81	620.171.5

Рубрики:
Напряжения (мех.) -- Поляризационно-оптический метод исследования

Доп. точки доступа:
Любутин, П.С.
Титков, В.В.
Светлаков, А.А.\ред.\
Институт физики прочности и материаловедения (Новосибирск)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-17/63773)

Шифр в сводном ЭК: 060e3f0f09caf417c87f6561cdb59640

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽