Полное описание

Spatially-resolved x-ray spectroscopy at CAMD = Ortsaufgel@:oste R@:ontgenspektroskopie am CAMD (Загл. нем.) / N. Molders, H. O. Moser, V. Saile, P. J. Schilling. - Karlsruhe : [s. n.], 1999. - 96 p. : ill. - (Wissenschaftliche Berichte / FZKA, ISSN 0947-8620 ; 6314). - Текст : непосредственный.
Парал. загл. нем. Рез. нем. Библиогр.: с.91-96

ГРНТИ	УДК
47.13.11	621.3.049.75.002(043)

Рубрики:
Фоторезисты -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ФОТОРЕЗИСТ -- ФОТОРЕЗИСТ
Доп. точки доступа:
Molders, N.
Moser, H.O.
Saile, V.
Schilling, P.J.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17669/6314)

Шифр в сводном ЭК: 052df19fa62032fbae268e5902ab0a31

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽