Полное описание
>
Li, S. Z. Markov random field modeling in image analysis / S. Z. Li. - 3rd ed. - Electronic text data. - London : Springer-Verlag, 2009. - (Advances in pattern recognition, ISSN 1617-7916). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-279-1. - ISBN 978-1-848-00279-1.
ГРНТИ | УДК | |
28.23.15 | 004.932-047.58 |
Кл.слова (ненормированные): обработка изображений -- моделирование -- марковские случайные поля
Доп. точки доступа:
SpringerLink (Online service)
>
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-279-1
Просмотр издания