Полное описание
>
Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006 : proceedings / ed. D. Yeung [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (Lecture notes in computer science, ISSN 0302-9743 ; 4109). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/11815921. - ISBN 978-3-54037-241-7.
ГРНТИ | УДК | |
28.23.15 | 004.93'1(063) |
Рубрики:
Распознавание образов -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Yeung, D.\ed.\
SpringerLink (Online service)
>
http://dx.doi.org/10.1007/11815921
Просмотр издания