Полное описание

004.332.34/P34-383780
Pavlov, A. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / A. Pavlov, M. Sachdev. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2008. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 40). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1. - ISBN 978-1-4020-8363-1.

ГРНТИ	УДК
50.11.31	004.332.34

Рубрики:
Запоминающие устройства с произвольной выборкой

Доп. точки доступа:
Sachdev, M.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1

Просмотр издания