Полное описание

Сошников, А. И. Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами / А. И. Сошников. - Текст : непосредственный // Нанотехника : инженер. журн. - 2008. - № 3. - С. 72-76. - Библиогр.: 7 назв.
(Шифр в БД У3237/2008/3)
ГРНТИ 29.19.31

Кл.слова (ненормированные): физика твердого тела -- полупроводники
Аннотация: Использование алмазных зондов для исследования электрических свойств поверхности с помощью оригинального прибора - сканирующего нанотвердометра. Особенностью прибора является возможность проводить индентирование, царапание и сканирование поверхности одним наконечником, изготовленным из токопроводящего монокристалла легированного бором алмаза.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказаны экз-ры для отделов: ХРЦ

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽