• ВХОД
  •  

    Полное описание


    Hong, D. Efficient test methodologies for high-speed serial links / D. Hong, K. Cheng. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2010. - (Lecture notes in electrical engineering, ISSN 1876-1100 ; 51). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4. - ISBN 978-90-481-3443-4.
    Рубрики:
    Engineering
    Computer science
    Systems engineering
    Engineering
    Circuits and systems
    Register-Transfer-Level implementation

    Доп. точки доступа:
    Cheng, K.
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью -830745
    http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4



    Просмотр издания