• ВХОД
  •  

    Полное описание


    Анализ морфологии поверхности МЛЭ наноструктур Si/Ge с помощью атомно-силовой микроскопии / Н. А. Торопов, В. А. Новиков, В. В. Кромин, А. П. Коханенко. - Текст : непосредственный // Физика твердого тела : сб. материалов XII Рос. науч. студенч. конф., 12-14 мая 2010 г., Томск. - Томск, 2010. - С. 208-210. - Библиогр.: 4 назв.
    (Шифр в БД Д9-10/74496)
    ГРНТИ 29.19.15

    Кл.слова (ненормированные): кремний -- германий
    Аннотация: Создание трехмерных островков германия на поверхности кремния заданных размеров осуществлено методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ). С помощью сканирующей зондовой микроскопии исследована морфология поверхности с наноостровками, оценена плотность массива.
    Доп. точки доступа:
    Торопов, Н.А.
    Новиков, В.А.
    Кромин, В.В.
    Коханенко, А.П.

    Экз-ры полностью Д9-10/74496
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽