Полное описание

Seebauer, E. G. Charged semiconductor defects : structure, thermodynamics and diffusion / E. G. Seebauer, M. C. Kratzer. - Electronic text data. - London : Springer, 2009. - (Engineering materials and processes, ISSN 1619-0181). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3. - ISBN 978-1-84882-059-3.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- дефекты -- структура -- термодинамика -- диффузия
Доп. точки доступа:
Kratzer, M.C.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3

Просмотр издания