Полное описание

Аналитическая система CompleXRay для рентгеновской диагностики наноструктур / А. Г. Турьянский, В. И. Анисимов, Н. Д. Бейлин [и др.]. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии - производству 2012 : тр. VIII науч.-практ. конф., 4-6 апр. 2012 г., Фрязино. - М., 2012. - С. 266-276. - Библиогр.: 14 назв.
(Шифр в БД Д9-12/97245)
ГРНТИ 90.27.31

Аннотация: Описана измерительная схема и функциональные возможности аналитического комплекса CompleXRay на базе рентгеновского рефлектометра.
Доп. точки доступа:
Турьянский, А.Г.
Анисимов, В.И.
Бейлин, Н.Д.
Герасименко, Н.Н.
Гижа, С.С.
Капустянов, В.Е.
Пиршин, И.В.
Сенков, В.М.
Смирнов, Д.И.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽