Полное описание

Н/8977/Пр-2020
Multifractal analysis of AFM images of Nb thin film surfaces / M.V.Altaisky,L.P.Chernenko,N.S.Erokhin и др. - Moscow : [s. n.], 2000. - 21 p. : il. - (Препринт / Институт космических исследований(Москва) ; Пр-2020). - 75 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.29	538.945:539.216.2(04)

Рубрики:
Ниобиевые пленки -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ниобиевая пленка -- метод -- исследование
Доп. точки доступа:
Altaisky, M.V.
Chernenko, L.P.
Erokhin, N.S.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽