Полное описание

Н/7868/IHEP-94-65
Dose characteristics of high-energy neutrons for radiation damage evaluation of silicon semiconductor devices / F.G.Alekseev,E.N.Savitskaya,S.A.Kharlampiev,I.A.Kurochkin. - Protvino : [s. n.], 1994. - 14 p. : il. - (Препринт / Институт физики высоких энергий(Серпухов) ; IHEP-94-65). - 240 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382:539.16(04)

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Влияние ионизирующих излучений

Кл.слова (ненормированные): полупроводниковый прибор -- влияние -- ионизирующее излучение
Доп. точки доступа:
Alekseev, F.G.
Savitskaya, E.N.
Kharlampiev, S.A.
Kurochkin, I.A.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽