Полное описание

Н/2509/14-90-239
Нейтронографическое исследование влияния электрического поля на кристаллы SrxBa1-xNb2O6(x=0,70; 0,75) / Ф.Прокерт,А.М.Балагуров,Б.Н.Савенко,Д.Сангаа. - Дубна : [б. и.], 1990. - 13 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; 14-90-239). - 240 экз. - 16 к. р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 12 (13 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.35	537.226.4(04)

Рубрики:
Сегнетоэлектрики -- Нейтронография

Кл.слова (ненормированные): сегнетолектрики -- нейтронография
Доп. точки доступа:
Прокерт, Ф.
Балагуров, А.М.
Савенко, Б.Н.
Сангаа, Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽