Полное описание

Н/2509/Р14-97-199
Реутов, В. Ф. Экспрессный метод ПЭМ-изучения структурных изменений в полупроводниках вдоль пути движения заряженных частиц / В.Ф.Реутов,А.С.Сохацкий. - Дубна : [б. и.], 1997. - 10 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-97-199). - 300 экз. - 1716 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:539.16(04)

Рубрики:
Полупроводники -- Влияние ионизирующих излучений

Кл.слова (ненормированные): полупроводник -- влияние -- ионизирующее излучение
Доп. точки доступа:
Сохацкий, А.С.

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽