Полное описание

Н/2509/Р14-89-767
Прокерт, Ф. Нейтронно-дифракционное изучение SrxВa1-xNb2О6 монокристаллов / Ф. Прокерт, Б. Н. Савенко, Д. Сангаа. - Дубна : [б. и.], 1989. - 7 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-89-767). - 360 экз. - 13 к. р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 6-7 (10 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.35	537.226.4:548.74(04)

Рубрики:
Сегнетоэлектрики -- Нейтронография

Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрик -- нейтронография
Доп. точки доступа:
Савенко, Б.Н.
Сангаа, Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽