Полное описание

Н/2509/Е14-97-184
Element depth profiles of porous silicon / A.P.Kobzev,O.A.Nikonov,M.Kulik и др. - Dubna : [s. n.], 1997. - 4 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е14-97-184). - 300 экз. - 756 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
31.17.15	546.28.04:543(04)
31.19.15

Рубрики:
Кремний -- Химический анализ

Кл.слова (ненормированные): кремний -- химический анализ
Доп. точки доступа:
Kobzev, A.P.
Nikonov, O.A.
Kulik, M.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽