Полное описание

Н/2509/Е14-96-185
Wieteska, K. Lattice deformation studies in high energy ions implanted silicon by means of various X-ray methods / K. Wieteska, W. Wierzchowski, W. Graeff. - Dubna : [s. n.], 1996. - 14 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е14-96-185). - 300 экз. - 2160 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.73(04)

Рубрики:
Кремний -- Рентгеноструктурный анализ

Доп. точки доступа:
Wierzchowski, W.
Graeff, W.
Wieteska K.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽