Полное описание
>
Study of the charge multiplication phenomenon is silicon epitaxial detector / Yu.G.Sobolev,V.F.Kushniruk,E.Bialkowski и др. - Dubna : [s. n.], 1999. - 6 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е13-99-185). - 340 экз. - 1 .20 р. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.15.39 | 539.1.074.55(04) |
Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые детекторы -- ионизирующее излучение
Доп. точки доступа:
Sobolev, Yu.G.
Kushniruk, V.F.
Bialkowski, E.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽