Полное описание
>
Комплексы малых ЭВМ: производительность. Надежность. Диагностика / Песелев К.В.,Иванова О.Л.,Крейнин А.Я.,Шяудкулис В.И. - М. : НПО "Поиск", 19 - . - Текст : непосредственный.
Ч. 2 : Организация диагностирования комплексов и систем / П.В.Цыков;П. В. Цыков. - 1993. - 157 с. : ил. - 136 экз. - 72 р.
Библиогр.:с.151-155(51 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
50.33.35 | 004.382.4.052.32 |
Рубрики:
Мини-ЭВМ -- Техническая диагностика
Доп. точки доступа:
Песелев, К.В.
Иванова, О.Л.
Крейнин, А.Я.
Шяудкулис, В.И.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
Заказ фрагмента документа ₽