Полное описание
>
Основные принципы и методы ускоренных испытаний на надежность радиоэлектронной аппаратуры / А.Н.Явриян,В.Б.Широков,А.Я.Резиновский,В.Л.Чибисов. - М. : Знание, 1993. - 112 с. : ил. - (Качество и надежность изделий / Гос. политехн. музей ; n2(23)). - 100 экз. - ISBN 5-07-002673-9 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.73 (14 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
19.05 | 621.396.6.019.3(0.062) |
Явриян, А.Н.
Широков, В.Б.
Резиновский, А.Я.
Чибисов, В.Л.
Политехнический музей (Москва)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказаны экз-ры для отделов: ХР
Заказ фрагмента документа ₽