Полное описание

М/22788/346
Топографические исследования вариаций состава и концентрации поверхностных дефектов в кристаллах твердых растворов Cd Hg Te и Ge Six / Э.Ю.Велиюлин,Р.Х.Лялин,А.А.Мамедов,К.С.Бердзенишвили. - Баку : [б. и.], 1990. - 17 с. : ил. - (Препринт ; 346)). - 100 экз. - Беспл. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 17

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322(04)

Рубрики:
Полупроводники -- Поверхностные явления -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): полупроводник -- поверхностное явление -- метод -- исследование
Доп. точки доступа:
Велиюлин, Э.Ю.
Лялин, Р.Х.
Мамедов, А.А.
Бердзенишвили, К.С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽