Полное описание
>
Карташев, В. А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина. - М. : [б. и.], 2004. - 20 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 88 за 2004 г.). - Библиогр.: с. 24(2 назв.). - 59 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.35.43 | 621.385.833.2(04) |
Рубрики:
Микроскопы электронные
Доп. точки доступа:
Бурухина, Т.Ф.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽