Полное описание
>
Обзоры по электронной технике : обзорная информация / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - В надзаг.Департамент электрон. пром-сти. - Текст : непосредственный.
Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : по дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев. - 1989. - 32 с. : ил. - 0.45 р.
Библиогр.: с.30-32
ГРНТИ | УДК | |
47.13.81 | 621.3.049.77:658.562 |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Технический контроль
Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- технический контроль
Доп. точки доступа:
Кузин, С.М.
Панасюк, В.Н.
Мокеров, В.Г.
Исаев, В.В.
"Электроника", ин-т (Москва)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Заказ фрагмента документа ₽