Полное описание
>
Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - В надзаг.Департамент электрон. пром-сти. - Текст : непосредственный.
Вып. 3(1636) : Надежность и диагностика интегральных схем, Ч. 1,2 : Долговечность и сохраняемость интегральных схем. Методы и средства неразрушающего контроля микроэлектронных устройств / Б.Е.Бердичевский,Т.Б.Маджарова,Л.Г.Дубицкий. - 1991. - 84 с. : ил. - 7.60 р.
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.77 | |
47.13.81 | 621.3.049.76:620.179 |
Рубрики:
Интегральные схемы
Микроэлектронные приборы -- Дефектоскопия
Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- микроэлектронный прибор -- дефектоскопия
Доп. точки доступа:
Маджарова, Т.Б.
Дубицкий, Л.Г.
"Электроника", ин-т (Москва)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Заказ фрагмента документа ₽