Полное описание
>
Обзоры по электронной технике : обзорная информация / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - Текст : непосредственный.
Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : по данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др. - 1990. - 64 с. : ил. - (Серия 8,Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания). - 3.65 р.
ГРНТИ | УДК | |
47.13.81 | 621.382-044.3 |
Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Техническая диагностика
Доп. точки доступа:
Бобыль, А.В.
Варенко, Г.Д.
Евдокимов, С.А.
"Электроника", ин-т (Москва)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Заказ фрагмента документа ₽