Полное описание
>
Конников, С. Г. Математическое моделирование в диагностике полупроводниковых гетероструктур (количественная растровая микроскопия). Ч.1 / С. Г. Конников, В. М. Чистяков, И. Н. Яссиевич. - Л. : [б. и.], 1990. - 58 с. - (Препринт / Физико-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе(Ленинград) ; 1443/1)). - 200 экз. - Беспл. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 58 (14 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.01.77 | 621.315.592.9(04) |
Рубрики:
Гетероструктуры -- Методы исследования
Кл.слова (ненормированные): гетероструктура -- микроскопический метод -- исследование
Доп. точки доступа:
Чистяков, В.М.
Яссиевич, И.Н.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽