Полное описание

Ж2-14/57200
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / под ред. А. Шварца др.; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2014. - 559 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце глав. - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-385-1 : Б. ц. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.09	620.22
29.35.43	537.533.35.71

Рубрики:
Материалы -- Микроскопический метод исследования

Аннотация: Представлены материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическая информация по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование), сварке трением с перемешиванием, а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности - каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Доп. точки доступа:
Шварц, А.\ред.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽