Полное описание
>
Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.] ; пер. с англ. Е. Б. Махияновой , под ред. А. Н. Ланцева . - М. : Техносфера, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. Предм. указ. : с. 289-294. - 750 экз. - ISBN 978-5-94836-365-3 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
47.01.81 | 621.3.049.771.14-048.24 |
Рубрики:
Системы на кристалле -- Тестирование
Доп. точки доступа:
Чэнь, М.
Цинь, К.
Ку, Х-М.
Мишра, П.
Ланцев, А.Н.\ред.\
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (2)
Свободны: ХРЦ (2)
Заказаны экз-ры для отделов: ФО19
Заказ фрагмента документа ₽