Полное описание

Д9-13/92806
Радчук, Н. Б. Стандартизация, сертификация. метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов : учеб. пособие / Н. Б. Радчук, А. Ю. Ушаков. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2013. - 103 с. : ил. - Библиогр.: с. 101. - 100 экз. - ISBN 978-5-7422-3721-1 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петерб. политехн. ун-т

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.315.592.08

Рубрики:
Полупроводники -- Параметры -- Измерение

Аннотация: Рассмотрены основы стандартизации, сертификации и метрологии. Описаны полупроводниковые материалы. Представлены методы электрических и оптических измерений параметров полупроводниковых материалов.
Доп. точки доступа:
Ушаков, А.Ю.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободных экз. нет
Экз.Э13-6210 (ХРЦ) занят;