Полное описание
>
Кочаков, В. Д. Основы атомно-силовой наноскопии : учеб. пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2010 (Чебоксары). - 55 с. : ил. - Библиогр.: с. 54 (4 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-7677-1482-7 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Чуваш. гос. ун-т им. И. Н. Ульянова.
ГРНТИ | УДК | |
31.19.03 | 543.456 |
Рубрики:
Микроскопия атомно-силовая
Аннотация: Рассмотрены физические основы сканирующей атомно-силовой микроскопии, устройство зондового сканирующего микроскопа. Описаны методы и методики исследований различных характеристик материалов и физических свойств поверхности твердых тел.
Доп. точки доступа:
Еремкин, А.В.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽