Полное описание

Д9-09/65575
Векилова, Г. В. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учеб. пособие / Г. В. Векилова, А. Н. Иванов, Ю. Д. Ягодкин. - М. : МИСИС, 2009 (М.). - 144 с. : ил. - Библиогр.: с. 144 (7 назв.). - 150 экз. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Гос. технол. ун-т, Моск. ин-т стали и сплавов, Каф. физ. материаловедения

ГРНТИ	УДК
81.09.03	620.22-022.532:53

Рубрики:
Наноструктурные материалы -- Методы исследования

Аннотация: Физические основы методов и аппаратура проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющих исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллического.
Доп. точки доступа:
Иванов, А.Н.
Ягодкин, Ю.Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽