• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Д9-09/65493
    Методы и средства контроля технологий, материалов и изделий в микро- и наноэлектронике : межвуз. сб. науч. тр. / Московский гос. ин-т электронной техники (техн. ун-т) ; под ред. В. И. Каракеяна. - М. : МИЭТ, 2009 (М.). - 195 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 70 экз. - ISBN 978-5-7256-0557-0 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.3.049.76:658.562

    Рубрики:
    Микроэлектронные приборы -- Технический контроль

    Доп. точки доступа:
    Каракеян, В.И.\ред.\
    Московский гос. ин-т электронной техники
    Экз-ры полностью Д9-09/65493
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽