Полное описание

Д9-06/20618
Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники.Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - М. : Учеба, 2006 (М.). - 92 с. : ил. - Библиогр.: с. 92. - 200 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ин-т стали и сплавов, Каф. материаловедения полупроводников

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.38.002.3

Рубрики:
Электронные материалы -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): электронный материал -- метод -- исследование
Доп. точки доступа:
Мильвидский, А.М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказаны экз-ры для отделов: ХР

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽