Полное описание
>
Александров, С. Е. Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов. Сканирующая зондовая микроскопия : учеб. пособие / С. Е. Александров, А. Б. Спешилова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2005 (СПб.). - 83 с. : ил. - Библиогр.: с. 78-82 (58 назв.). - 100 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
ГРНТИ | УДК | |
81.09.03 | 620.22-022.532 |
Рубрики:
Наноструктурные материалы -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Спешилова, А.Б.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽